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『外観検査から始めるAI活用! 事例に学ぶ、成果を最大化する製造DXの進め方』

==製造業IoTカンファレンス2024 講演のご案内==

「製造現場における、データ・AIの活用~品質改善から生産性向上まで」というテーマで、
IoT活用に向けて、具体的な取り組みをされている企業様の事例についてのご講演を聞くことができます。

【ワイ・ディ・シー講演概要】

『外観検査から始めるAI活用!事例に学ぶ、成果を最大化する製造DXの進め方』と題して講演をいたします。
製造業の外観検査によくある課題に対して、検査のシステム化による省人化など、効率化にとどまったお話をよくお聞きします。
本講演では、従来のAIを用いた効率化に加えて、検査画像をデータ化することにより、その他のプロセスデータや検査データと活用して、
成果を最大化する外観検査についての新たな展望をご紹介します。


なぜ外観検査からはじめるのか?
製造業で発生する外観検査のAI導入失敗事例
成果を最大化するためのデータ活用
SearchMaruが描く進化したAI活用


開催概要



名称

製造業IoTカンファレンス2024
製造現場における、データ・AIの活用~品質改善から生産性向上まで

開催日

2024年2月15日(木) 9:00~17:25 ※弊社講演時間10:05~10:45

開催形式

オンライン開催

主催

リバイバル・マネジメント・フォーラム事務局

詳細およびお申込みはこちら

※外部サイト(製造業IoTカンファレンス2024)のページへリンクします。

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