株式会社ワイ・ディ・シー

装置管理ソリューション「MSPCプラットフォーム」

MSPCプラットフォームは、多変量SPC（Multivariate SPC）を実現するために開発された総合品質データ・プラットフォームです。特性テストや装置から出力される数十、数百種類の品質データから多変量解析により、総合的な指標を計算、トレンド等にてSPC管理します。異常が発生した場合にはアラームを発報する機能、原因追及のためのドリルダウン機能を実装しています。

MSPCプラットフォームを導入することにより、大量なパラメータを持つ品質データの効果的なモニタリングが可能となります。

装置データの活用により品質問題を解決！

YDCの「MSPCプラットフォーム」は、装置データを活用することで次のような品質問題を解決します。

• 装置機差の解消
  • 同じ装置、同じ条件で処理しているのに、品質が異なる
  • 開発プロセス条件が量産で再現せず、立ち上げが遅れる
• メンテナンスの最適化
  • メンテナンス後の品質が安定せず、大量のダミーを流さないといけない
  • メンテナンスのタイミングを逃し、品質不良が発生する
  • 装置は異常と思われるが原因が追求できず、修理が遅れる
• サンプリング方法の最適化
  • 処理後の検査では見つからない不良があり、最終テストで見つかる
  • 処理後の検査に多くの工数、サンプル(コスト)がかかっている
• 異常問題の再発防止
  • 過去の問題が原因追求に至っていないので、品質異常が再発する

「MSPCプラットフォーム」の特長

• 卓越したデータベースの機能
  MSPCプラットフォームのキーとなる装置データの高速ハンドリング。YDC SONAR®の高速データベースをベースとするMSPCプラットフォームは、装置データの有効活用に貢献します。
• 豊富な導入実績
  YDC SONAR®の半導体・液晶工場への豊富な導入実績より、装置データを含む多彩なデータフォーマットを取得・保存する技術が実装されています。
• スケーラビリティ
  装置データの取得は一台からスタート可能です。実績や運用方法を検討しながら、自在に拡張することが可能です。

「MSPC Platform」を実際に操作できるワークショップを定期に開催しています。操業データの統合やプロセス異常検知の説明に加えて、 その背景にある統計理論（多変量解析）の解説を行います。 講義と実習を通じて、統計理論と実践的な技術を身につけていただきます。 ご興味のある方は、弊社ホームページ「イベント＆セミナー」にてご確認ください。

資料ダウンロード

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